一种半导体测试治具

专利摘要:
本实用新型公开了一种半导体测试治具，包括底座和工作台，所述底座的底部固定连接有支撑腿，所述底座的背面固定连接有支撑板，所述底座的上表面固定连接有支撑柱，所述支撑柱的一端固定安装有工作台，所述底座的上表面靠近工作台固定连接有第一滑杆，所述第一滑杆的表面滑动连接有滑套，所述滑套的表面焊接有固定板，本实用新型安装有卡板和挡板，通过挡板和半导体一面贴合，然后向外移动推板，使推板通过滑块在滑槽内壁滑动，当推板表面贴合在半导体另一面时，松开推板，推板在弹簧的作用力下向内移动，从而对半导体两侧进行固定，减少了半导体放置不稳定的情况，提高了测试效率，从而保证了半导体的质量，提高了装置的实用性，且整个测试过程操作简单，方便使用。
公开号:CN214335017U
申请号:CN202120059037.7U
申请日:2021-01-11
公开日:2021-10-01
发明作者:陈冬；洪凯
申请人:Suzhou Chenmin Machinery Technology Co ltd；
IPC主号:G01R1-04

专利说明:
[n0001] 本实用新型属于测试治具相关技术领域，具体涉及一种半导体测试治具。
[n0002] 半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明、大功率电源转换等领域都有应用，如二极管就是采用半导体制作的器件,无论从科技或是经济发展的角度来看，半导体的重要性都是非常巨大的，大部分的电子产品，如计算机、移动电话或是数字录音机当中的核心单元都和半导体有着极为密切的关联，常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，硅是各种半导体材料应用中最具有影响力的一种，物质存在的形式多种多样，固体、液体、气体、等离子体等等，我们通常把导电性差的材料，如煤、人工晶体、琥珀、陶瓷等称为绝缘体，而把导电性比较好的金属如金、银、铜、铁、锡、铝等称为导体，可以简单的把介于导体和绝缘体之间的材料称为半导体，与导体和绝缘体相比，半导体材料的发现是最晚的，直到20世纪30年代，当材料的提纯技术改进以后，半导体的存在才真正被学术界认可。
[n0003] 现有的技术存在以下问题：现有的半导体在生产过后，需要对半导体进行检测，来确保半导体的质量，由于测试过程中不能有效的对半导体进行固定，导致放置不稳定，降低了测试效率，无法保证检测后半导体的质量，不利于使用。
[n0004] 本实用新型的目的在于提供一种半导体测试治具，以解决上述背景技术中提出的现有的半导体在生产过后，需要对半导体进行检测，来确保半导体的质量，由于测试过程中不能有效的对半导体进行固定，导致放置不稳定，降低了测试效率，无法保证检测后半导体的质量，不利于使用的问题。
[n0005] 为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种半导体测试治具，包括底座和工作台，所述底座的底部固定连接有支撑腿，所述底座的背面固定连接有支撑板，所述底座的上表面固定连接有支撑柱，所述支撑柱的一端固定安装有工作台，所述底座的上表面靠近工作台固定连接有第一滑杆，所述第一滑杆的表面滑动连接有滑套，所述滑套的表面焊接有固定板，所述支撑板的正面固定连接有连接块，所述第一滑杆通过连接块和支撑板固定连接，所述支撑板的正面靠近顶部固定安装有凸块，所述凸块的表面靠中间位置处固定连接有连接板；
[n0006] 所述连接板的一端开设有卡槽，所述卡槽的内壁固定连接有第一连接轴，所述第一连接轴的表面活动连接有固定块，所述固定块的表面固定连接有第二连接轴，且第二连接轴贯穿于固定块，所述固定块的一端固定安装有握把，所述第二连接轴的一端固定连接有卡板，所述连接板的另一端固定连接有定位套，所述定位套的内壁滑动连接有第二滑杆，所述第二滑杆的一端活动连接有螺栓，且螺栓的一端贯穿于第二滑杆螺纹连接有螺帽，所述卡板的一端通过螺栓和第二滑杆固定连接；
[n0007] 所述第二滑杆的另一端固定连接有定位槽，所述固定板和第二滑杆通过定位槽固定连接，所述固定板的下表面固定安装有测试器，所述工作台的上表面固定连接有挡板，所述工作台的上表面靠近挡板开设有凹槽。
[n0008] 优选的，所述凹槽的内部开设有滑槽，所述滑槽的内壁滑动连接滑块，所述滑块的一端固定连接有推板，所述推板的一侧固定安装有连接杆，且连接杆的一端贯穿于工作台，所述连接杆的表面套接有弹簧。
[n0009] 优选的，所述固定板和第一滑杆通过滑套滑动连接，所述推板和滑槽通过滑块滑动连接，所述固定块和卡槽通过第一连接轴活动连接。
[n0010] 与现有技术相比，本实用新型提供了一种半导体测试治具，具备以下有益效果：
[n0011] 本实用新型通过设置的卡板和挡板，将半导体固定夹持在工作台的表面，通过挡板和半导体一面贴合，然后向外移动推板，使推板通过滑块在滑槽内壁滑动，当推板表面贴合在半导体另一面时，松开推板，推板在弹簧的作用力下向内移动，从而对半导体两侧进行固定，减少了半导体放置不稳定的情况，提高了测试效率，从而保证了半导体的质量，提高了装置的实用性，且整个测试过程操作简单，方便使用。
[n0012] 附图用来提供对本实用新型的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本实用新型的实施例一起用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的限制，在附图中：
[n0013] 图1为本实用新型提出的一种半导体测试治具结构示意图；
[n0014] 图2为本实用新型提出的一种半导体测试治具侧视图；
[n0015] 图3为本实用新型提出的一种半导体测试治具正视图；
[n0016] 图4为本实用新型提出的图中A处局部放大图；
[n0017] 图5为本实用新型提出的工作台局部剖面图；
[n0018] 图中：1、支撑腿；2、底座；3、第一滑杆；4、工作台；5、固定板；6、支撑板；7、支撑柱；8、滑套；9、连接块；10、挡板；11、凸块；12、定位槽；13、第二滑杆；14、推板；15、测试器；16、固定块；17、握把；18、第一连接轴；19、卡板；20、第二连接轴；21、连接板；22、螺帽；23、螺栓；24、定位套；25、卡槽；26、连接杆；27、滑块；28、滑槽；29、弹簧； 30、凹槽。
[n0019] 下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。
[n0020] 请参阅图1-5，本实用新型提供一种技术方案：一种半导体测试治具，包括底座2和工作台4，底座2的底部固定连接有支撑腿1，通过支撑腿1的安装，提高了稳定性，底座2的背面固定连接有支撑板6，底座2的上表面固定连接有支撑柱7，支撑柱7的一端固定安装有工作台4，工作台4和底座2通过支撑柱7固定连接，底座2的上表面靠近工作台4固定连接有第一滑杆3，第一滑杆3设置有两个，且两个第一滑杆3关于支撑板6对称设置，第一滑杆3的表面滑动连接有滑套8，滑套8的表面焊接有固定板5，固定板5和第一滑杆3通过滑套8滑动连接，支撑板6的正面固定连接有连接块9，第一滑杆3通过连接块9和支撑板6固定连接，支撑板6的正面靠近顶部固定安装有凸块11，凸块11的表面靠中间位置处固定连接有连接板21，连接板21的一端开设有卡槽25，卡槽25的内壁固定连接有第一连接轴18，第一连接轴 18的表面活动连接有固定块16，固定块16和卡槽25通过第一连接轴18活动连接，固定块16的表面固定连接有第二连接轴20，且第二连接轴20贯穿于固定块16，固定块16的一端固定安装有握把17，第二连接轴20的一端固定连接有卡板19，连接板21的另一端固定连接有定位套24，定位套24的内壁滑动连接有第二滑杆13，第二滑杆13的一端活动连接有螺栓23，且螺栓23的一端贯穿于第二滑杆13螺纹连接有螺帽22，卡板19的一端通过螺栓23 和第二滑杆13固定连接。
[n0021] 第二滑杆13的另一端固定连接有定位槽12，固定板5和第二滑杆13通过定位槽12固定连接，固定板5的下表面固定安装有测试器15，工作台4的上表面固定连接有挡板10，工作台4的上表面靠近挡板10开设有凹槽30，凹槽30的内部开设有滑槽28，滑槽28的内壁滑动连接滑块27，滑块27的一端固定连接有推板14，推板14和挡板10的表面均固定安装有保护套，保护套的设置减少了半导体在夹持过程中产生的危害，推板14设置有两个，且两个推板14关于工作台4对称设置，推板14和滑槽28通过滑块27滑动连接，推板14的一侧固定安装有连接杆26，且连接杆26的一端贯穿于工作台 4，连接杆26的表面套接有弹簧29。
[n0022] 本实用新型的工作原理及使用流程：
[n0023] 使用时，将要测试的半导体放置在工作台4的上表面，通过挡板10和半导体一面贴合，然后向外移动推板14，使推板14通过滑块27在滑槽28内壁滑动，当推板14表面贴合在半导体另一面时，松开推板14，推板14在弹簧 29的作用力下向内移动，从而对半导体两侧进行固定，当半导体稳定固定在工作台4后，上提握把17，使固定块16通过第一连接轴18转动，从而带动卡板19下移，使第二滑杆13通过卡板19在定位套24内部下移，然后带动固定板5在第一滑块3表面移动，使固定板5下表面固定安装的测试器15接触半导体，实现对半导体接触检测，当检测完成后，上提握把17使固定板5 通过第二滑杆13上移，从而对测试器15和半导体分离，最后将检测好的半导体拿出。
[n0024] 尽管已经示出和描述了本实用新型的实施例，对于本领域的普通技术人员而言，可以理解在不脱离本实用新型的原理和精神的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本实用新型的范围由所附权利要求及其等同物限定。

权利要求:
Claims (3)
[0001] 1.一种半导体测试治具，包括底座(2)和工作台(4)，其特征在于：所述底座(2)的底部固定连接有支撑腿(1)，所述底座(2)的背面固定连接有支撑板(6)，所述底座(2)的上表面固定连接有支撑柱(7)，所述支撑柱(7)的一端固定安装有工作台(4)，所述底座(2)的上表面靠近工作台(4)固定连接有第一滑杆(3)，所述第一滑杆(3)的表面滑动连接有滑套(8)，所述滑套(8)的表面焊接有固定板(5)，所述支撑板(6)的正面固定连接有连接块(9)，所述第一滑杆(3)通过连接块(9)和支撑板(6)固定连接，所述支撑板(6)的正面靠近顶部固定安装有凸块(11)，所述凸块(11)的表面靠中间位置处固定连接有连接板(21)；
所述连接板(21)的一端开设有卡槽(25)，所述卡槽(25)的内壁固定连接有第一连接轴(18)，所述第一连接轴(18)的表面活动连接有固定块(16)，所述固定块(16)的表面固定连接有第二连接轴(20)，且第二连接轴(20)贯穿于固定块(16)，所述固定块(16)的一端固定安装有握把(17)，所述第二连接轴(20)的一端固定连接有卡板(19)，所述连接板(21)的另一端固定连接有定位套(24)，所述定位套(24)的内壁滑动连接有第二滑杆(13)，所述第二滑杆(13)的一端活动连接有螺栓(23)，且螺栓(23)的一端贯穿于第二滑杆(13)螺纹连接有螺帽(22)，所述卡板(19)的一端通过螺栓(23)和第二滑杆(13)固定连接；
所述第二滑杆(13)的另一端固定连接有定位槽(12)，所述固定板(5)和第二滑杆(13)通过定位槽(12)固定连接，所述固定板(5)的下表面固定安装有测试器(15)，所述工作台(4)的上表面固定连接有挡板(10)，所述工作台(4)的上表面靠近挡板(10)开设有凹槽(30)。
[0002] 2.根据权利要求1所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述凹槽(30)的内部开设有滑槽(28)，所述滑槽(28)的内壁滑动连接滑块(27)，所述滑块(27)的一端固定连接有推板(14)，所述推板(14)的一侧固定安装有连接杆(26)，且连接杆(26)的一端贯穿于工作台(4)，所述连接杆(26)的表面套接有弹簧(29)。
[0003] 3.根据权利要求2所述的一种半导体测试治具，其特征在于：所述固定板(5)和第一滑杆(3)通过滑套(8)滑动连接，所述推板(14)和滑槽(28)通过滑块(27)滑动连接，所述固定块(16)和卡槽(25)通过第一连接轴(18)活动连接。

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同族专利:

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公开号 | 公开日

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引用文献:

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公开号 | 申请日 | 公开日 | 申请人 | 专利标题

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法律状态:
2021-10-01| GR01| Patent grant|

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2021-10-01| GR01| Patent grant|

优先权:

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申请号 | 申请日 | 专利标题

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CN202120059037.7U|CN214335017U|2021-01-11|2021-01-11|一种半导体测试治具|CN202120059037.7U| CN214335017U|2021-01-11|2021-01-11|一种半导体测试治具|